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XGS-9高斯光束参数测量及透镜变换实验系统

产品型号:  

产品时间:  2018-05-26

所  在  地:  天津市南开区华苑产业园区鑫茂科技园G座

产品特点:  本实验研究高斯光束的特性参数,以及高斯光束通过薄透镜的传输和变换性质,重点对光束质量的评价和测量进行了阐述。建立了一套以CCD为光斑探测器,结合计算机和测量软件的光斑测量系统。测量了He-Ne激光器的光束光强分布,计算出高斯光束参数,并用双曲线拟合法测量出质量因子。

(联系我们,请说明是在 天津港东科技股份有限公司 上看到的信息,谢谢!)

产品概述

实验内容:

1、高斯光束参数测量实验,光斑直径,发散角,束腰半径,能量分布图形。

2、高斯光束的变换和参数测量。

 

配置和参数

1、光源:He-Ne激光器,波长632.8nm,输出功率>1.5mW

2、光具座:硬铝型材导轨,长1.2m

3、光电探测器:进口工业黑白CCD摄像机,1/3" CCD,分辨率1024×768,像素尺寸4.65μm

4、透镜:f=45,f=50,f=75,f=100各1片

5、衰减片系统3套。

 

产品特点

1、本实验属于激光原理系列实验,契合光电信息实验室建设需要

2、实验系统做了精简设计,操作更加方便。

3、采用德国进口工业CCD摄像机,灵敏度更高,动态范围更宽。

4、带软件开发包,方便客户基于CCD相机进一步开发新的实验。

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